Sonda Positector RTR 3D

La sonda RTR3D es un micrómetro digital para medir y registrar parametros de perfil de superficie como rugosidad Ra y Rz, entre otros. Mide la altura de pico (HL) y parámetros de perfil 2D/3D comunes como Ra, Rz, Sq, Spd y más. Es válido para superficies planas, curvadas o irregulares, calcula y registra 14 parámetros 2D y 3D en cada medición.

Más detalles

E-OPT PS 0045

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- Cumple con ASME B46, ASTM D4417, ISO 8503-5, NACE SP287, SSPC-PA 17, SSPC-SP5, SP6, SP10, SP11-87T y otros.
- Mide la altura del pico (HL) y los parámetros comunes del perfil 2D / 3D como Ra, Rz, Sq, Spd y más
- Certificado de calibración (que contiene mediciones de Ra y Rt) que muestra la trazabilidad a un laboratorio nacional acreditado incluido
- Calcula y registra los catorce parámetros 2D y 3D con cada medición
- Aplica filtros de corte cortos y largos y descarte longitudes para optimizar el análisis para una aplicación específica
- Orienta la traza 2D entre horizontal, vertical y diagonal (XY, YX)

Parámetros 2D - 'R' - Parámetros del perfil
Ra Promedio de Rugosidad
Rq Media cuadrática de rugosidad
Rp Perfil Máximo de altura de pico
Rv Perfil máximo de profundidad del valle
Rt Altura total del perfil
Rz Altura máxima promedio del perfil
Rpc Cuenta máximo por unidad de longitud

Parámetros 3D - 'S' - Altura / amplitud
H Promedio de altura máxima de pico a valle
Sa Promedio de rugosidad
Sq Media cuadrática de rugosidad
Sz Altura máxima de la zona a la altura del valle
Sp Altura máxima del área de pico
Sv Profundidad máxima del valle
Spd densidad del pico regional

Especificaciones técnicas


Medida del rango (H): 20 - 115 µm / 0.8 - 4.5 mils
Medida del rango (Rt): 10 - 115 µm / 0.4 - 4.5 mils
Rugosidad mínima (Ra): 2 µm / 0.08 mil
Exactitud (H): +5 µm / +0.2 mil
Exactitud (Rt):* +(5 µm + 5%) / +(0.2 mil+ 5%)
Exactitud (Ra):* +(0.25 µm + 5%) / +(0.01 mil + 5%)
Presión del yunque: 1.1 Newtons / 110 grams-force
Tamaño del yunque: Ø6.25 mm / Ø0.25 inch
Campo de visión: 3.8 x 3.8 mm / 0.149 x 0.149 inch
Muestreo lateral: 3.7 µm 0.145 mil
Resolución vertical: 100 nm - 2D/3D
10 nm - SDF
3.93 µin - 2D/3D
0.393 µin - SDF
Resolución: 0.1 µm 0.01 mil

* Usando cinta replica X-Coarse para la medición

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